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作者(中文):茆淑容
作者(外文):Mao, Shu, Jung
論文名稱(中文):影像感測器新產品開發效能測試解決方案-以K公司為例
論文名稱(外文):Image Sensor New device development cost effectiveness solution for K company case study
指導教授(中文):邱銘傳
指導教授(外文):Chiu,Ming-Chuan
口試委員(中文):朱詣尹
陳光辰
口試委員(外文):Yee-Yeen Chu
Kuang-chen Chen
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程與工程管理學系碩士在職專班
學號:104036517
出版年(民國):106
畢業學年度:105
語文別:中文
論文頁數:55
中文關鍵詞:IC測試互補性氧化金屬氧化物半導體影像感測器影像感測器測試分析層級程序法
外文關鍵詞:IC TestingCMOS Image Sensor (CIS)Image Sensor TestAnalytic Hierarchy
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我國半導體行業是一個精細垂直分工,資本密集和技術密集的特定行業,IC測試廠屬於這個垂直分工系統的下游行業。為了確保產品的品質,每個產品輸出都需經過測試過程。因此,測試成本是每個新產品的整個開發過程中的關鍵因素。而個案公司長期以來都僅依據經營者與產線反應的問題做一些機台的緊急改善措施,目前並無一客觀的機台改善與評價方式。因此,本研究計畫以提供一個互補性金屬氧化物半導體影像感測器(CMOS Image Sensor, CIS)效能性測試解決方案為目標,將依循分析層級程序法(Analytic Hierarchical Process, AHP)的基本步驟,先透過專家訪談之過程,彙整出影響影像感測器改善決策之衡量指標及評估準則,然後再依此建立層級架構。同時對15位專家進行問卷調查,以層級分析法,建立影像感測器測試改善順序決策模式,並將改善後成果應用於CIS測試的實際案例中,此測試平台架構可以讓總成本降低24%、讓客戶有降低20%的成本、同時提升機台毛利4.1%,提供了更有效益、成本優勢的CIS測試系統解決方案。

關鍵詞:IC測試、互補性氧化金屬氧化物半導體影像感測器、影像感測器測試、分析層級程序法
Semiconductor industry in Taiwan is a specific industry of delicate vertical specialization with capital and technology intensive nature. IC testing plants belong to the industry of downstream in this vertical specialization system. In order to ensure product quality, semiconductor test is allocated in each stage of product production process and test performance becomes a key factor of each product. Therefore, the goal of this research is to develop a decision making process for new IC test equipment utilizing Analytic Hierarchy Process (AHP). An actual CMOS Image Sensor (CIS) case study is provided to demonstrate the advantage of proposed method. To clarify the criteria along with their weights, 15 experts were interviewed. This decision making process reduce 24% of overall cost、reduce 20% of testing cost for customer, and increase the gross margin of tester,which provides a more cost-effective solution for case company.


Keyword: IC Testing、CMOS Image Sensor (CIS)、Image Sensor Test, Analytic Hierarchy Process (AHP)
論文摘要 I
ABSTRACT II
誌謝 III
目錄 IV
圖目錄 VI
表目錄 VII
第一章 緒論 1
1.1 研究背景 1
1-2 研究動機 2
1-3 研究目的 3
1-4 論文架構 3
第二章 文獻回顧探討 5
2-1 影像感測器簡介 5
2-2 影像感測器發展歷程 7
2-3 影像感測器傳統測試平台 14
2-3.1 CMOS影像感測器測試需求演進 14
2-3.2 CMOS影像感測器測試設備演進 20
2-4 影像感測器測試需要考慮的其他因素 22
第三章 研究方法 25
3-1 分析層級程序法簡介與應用 25
3-2 建構影像感測器測試改善評選模型 29
第四章 個案研究與效能測試解決方案 34
4-1 半導體測試業現況分析 34
4-2 影像感測器市場規模現況 35
4-3 個案背景 36
4-4 影像感測器測試改善評選模型結果 37
4-5 影像感測器效能測試解決方案的架構 41
4-6 影像感測器產品測試方案 42
4-6.1影像測試處理函式庫 42
4-6.2 FPGA解碼數位與光纖高速傳輸 44
4-7 導入改善之結果比較與分析 45
第五章 結論與建議 48
5-1 結論 48
5-2 未來研究建議 49
參考文獻 50

英文部分

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中文部分

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