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論文基本資料
摘要
外文摘要
論文目次
參考文獻
電子全文
作者(中文):
唐偉智
作者(外文):
Tang, Wei Chih
論文名稱(中文):
設備零組件儲存之決策分析以減少生產力損失風險
論文名稱(外文):
Analyze the Inventory Decisions of Equipment Parts to Reduce Productivity Vulnerability
指導教授(中文):
簡禎富
指導教授(外文):
Chien,Chen-Fu
口試委員(中文):
謝英哲
吳佳虹
學位類別:
碩士
校院名稱:
國立清華大學
系所名稱:
經營管理碩士在職專班
學號:
102076507
出版年(民國):
105
畢業學年度:
104
語文別:
中文
中文關鍵詞:
半導體
、
製成週期
、
設備
、
零配件
、
產能
外文關鍵詞:
Semiconductor
、
Cycle time
、
Equidment
、
Spare parts
、
Productivity
相關次數:
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點閱:336
評分:
下載:28
收藏:0
近年來,半導體的發展隨著時間的演變開始邁入10奈米等級的製程,而藉著半導體元件發展的相關產品更新也是日新月異,在市場上的需求以及改變的時程都隨之越縮越短,各大半導體公司為了市場上的需求,所追求的不僅僅是出貨多少跟品質高低,能不能準時以及迅速產出也是目前越來越重視的一塊,因此產品製程週期(cycle time),也開始變成每天比對的重點項目,此研究主要以設備角度來探討可能造成延遲產品製造的因素,並以半導體公司實際運作為實證,來幫助決策者能針對設備面的零配件妥善安排,避免掉不必要的機台時間浪費,才能達到最後產品時程的要求,並減少產能影響。
In recent years,and related product updates through the semiconductor element is the rapid development of the demand in the market and changes in the time course of the contraction are followed more short, the major semiconductor companies to the market demand, seek not only the number of shipments with the level of quality, on time and can quickly output is currently more important piece, so the product process cycle time, also began to become the focus of the project for more than a day, and in this study to explore the perspective of the device may cause a delay factor in product manufacturing, and semiconductor companies for the actual operation of the demonstration, to help decision makers to make proper arrangements for surface equipment spare parts, to avoid out unnecessary waste of time machine, in order to achieve the final product process requirements, and reduce the impact of productivity
第一章 緒論 1
1.1 研究背景、動機與重要性 1
1.2 研究目的 2
1.3 論文結構 2
第二章 文獻回顧 3
2.1 紫式決策分析架構 3
2.2 半導體現況討論 4
第三章 研究架構 5
3.1 研究架構方法分析 5
3.2 簡易多屬性評估架構 6
第四章 實證研究 7
4.1 實證研究問題之背景與情境說明 7
4.2 實驗設計與參數設定說明 10
4.3 結果整理、呈現與討論 11
第五章 結論 15
5.1 研究貢獻和限制 15
5.2 未來研究方向 15
參考文獻 16
簡禎富(2005),決策分析與管理,雙葉書廊,台北。
簡禎富、周哲維 ,「需求不確定性之產能擴充決策分析- TFT-LCD產業之個案研究」,Journal of Management & Systems Vol.23, No. 1, January 2016
Chen-Fu Chien and Chia-Yu Hsu,“UNISON analysis to model and reduce step-and-scan overlay errors for semiconductor manufacturing”,2011
Chen-Fu Chien 、 Hung-Ju Wang and Min Wang “A UNISON framework for analyzing alternative strategies of IC final testing for enhancing overall operational effectiveness”2007
Yun-Hsuan Lin, Chen-Fu Chien and Chih-Min Yu“UNISON DECISION ANALYSIS FRAMEWORK FOR WORKFORCE PLANNING FOR SEMICONDUCTOR FABS AND AN EMPIRICAL STUDY”,2015
Jei-Zheng Wu and Chen-Fu Chien“Modeling strategic semiconductor assembly outsourcing decisions based on empirical settings” OR Spectrum (2008)
簡禎富、游智閔、徐紹鐘,「紫式決策分析以建構半導體晶圓廠人力規劃 決策模型」Journal of Management & Systems Vol. 16, No. 2, April 2009
林繼勇、 簡禎富、胡志翰,「紫式決策分析以建構液晶原料廠製程確效評估模式」,品質學報 Vol. 15, No. 5 (2008)
Chen-Fu Chien、Chi-Yung Lin and Chih-Han Hu“Analysing inspection frequency for wafer bumping process and an empirical study of UNISON decision framework” Int. J. Manufacturing Technology and Management, Vol. 14, Nos. 1/2, 2008
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