|
1. 台灣電力公司, 引用於:http://www.taipower.com.tw. 2. 張嘉修 科學發展, 2009, 433. 3. Tard, C.; Pickett, C. J. Chem. Rev. 2009, 2245-2274. 4. Teixeira, M.; Moura, I.; Xavier, A. V.; Huynh, B. H.; Dervartanian, D. V.; Peck, H. D.; Legall, J.; Moura, J. J. G. J. Biol. Chem. 1985, 8942-8950. 5. Garcin, E.; Vernede, X.; Hatchikian, E. C.; Volbeda, A.; Frey, M.; Fontecilla-Camps, J. C. Struct. Fold. Des. 1999, 557-566. 6. Przybyla, A. E.; Robbins, J.; Menon, N.; Peck, H. D. Fems Microbiol Lett 1992, 109-135. 7. Nicolet, Y.; Piras, C.; Legrand, P.; Hatchikian, C. E.; Fontecilla-Camps J. C., Struct. Fold. Des. 1999, 13-23. 8. Peters, J. W.; Lanzilotta, W. N.; Lemon, B. J.; Seefeldt, L. C. Science 1998, 1853-1858. 9. Shima, S.; Pilak, O.; Vogt, S.; Schick, M.; Stagni, M. S.; Meyer-Klaucke, W.; Warkentin, E.; Thauer, R. K.; Ermler, U. Science 2008, 572-575. 10. Darensbourg, M. Y.; Lyon, E. J.; Smee, J. J. Coordin. Chem. Rev. 2000, 533-561. 11. Pardo, A.; De Lacey, A. L.; Fernandez, V. M.; Fan, H. J.; Fan, Y. B.; Hall, M. B. J. Biol. Inorg. Chem. 2006, 286-306. 12. Nicolet, Y.; de Lacey, A. L.; Vernede, X.; Fernandez, V. M.; Hatchikian, E. C.; Fontecilla-Camps, J. C. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 1596-1601. 13. Ryde, U.; Greco, C.; De Gioia, L. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 4512-4513. 14. Bruschi, M.; Fantucci, P.; De Gioia, L. Inorg. Chem. 2003, 42, 4773-4781. 15. Siegbahn, P. E. M.; Tye, J. W.; Hall, M. B. Chem. Rev. 2007, 107, 4414-4435. 16. Liu, Z. P.; Hu, P. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5175-5182. 17. Chen, D. F.; Scopelliti, R.; Hu, X. L. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 928-929. 18. Yang, X. Z.; Hall, M. B. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 14036-14037. 19. Cammack, R., Nature 1999, 397 (6716), 214-215. 20. Liaw, W. F.; Tsai, W. T.; Gau, H. B.; Lee, C. M.; Chou, S. Y.; Chen, W. Y.; Lee, G. H. Inorg. Chem. 2003, 42, 2783-2788. 21. Helm, M. L.; Stewart, M. P.; Bullock, R. M.; DuBois, M. R.; DuBois, D. L. Science 2011, 333, 863-866. 22. Liu, Y. C.; Chu, K. T.; Jhang, R. L.; Lee, G. H.; Chiang, M. H. Chem. Comm. 2013, 49, 4743-4745. 23. Hou, K.; Fan, W. Y. Dalton trans. 2014, 43, 16977-16980. 24. Chong, D. S.; Georgakaki, I. P.; Mejia-Rodriguez, R.; Samabria-Chinchilla, J.; Soriaga, M. P.; Darensbourg, M. Y. Dalton trans. 2003, 4158-4163. 25. Huynh, M. H. V.; Meyer, T. J. Chem. Rev. 2007, 107, 5004-5064. 26. Chu, K. T.; Liu, Y. C.; Huang, Y. L.; Lee, G. H.; Tseng, M. C.; Chiang, M. H. Chem-Eur. J 2015, 21, 6852-6861. 27. Atkins, P., Physical Chemistry. 6th ed.; W.H. Freeman and Company: New York, 1997. 28. Petr, V., Handbook of Chemistry & Physics. 88th ed.; Chemical Rubber Company: 2007. 29. Felton, G. A. N.; Petro, B. J.; Glass, R. S.; Lichtenberger, D. L.; Evans, D. H. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 11290-11291. 30. Connelly, N. G.; Geiger, W. E. Chem. Rev. 1996, 96, 877-910. 31. Barriere, F.; Geiger, W. E. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 3980-3989. 32. Felton, G. A. N.; Glass, R. S.; Lichtenberger, D. L.; Evans, D. H. Inorg. Chem. 2006, 45, 9181-9184. 33. Sellmann, D.; Ludwig, W. J. Organomet. Chem. 1984, 269, 171-182. 34. Brookhart, M.; Grant, B.; Volpe, A. F. Organometallics 1992, 11, 3920-3922. 35. Nishida, H.; Takada, N.; Yoshimura, M.; Sonoda, T.; Kobayashi, H. B. Chem. Soc. Jpn. 1984, 57, 2600-2604. 36. Wright, J. A.; Pickett, C. J. Chem. Comm. 2009, 5719-5721. 37. Zhao, X.; Georgakaki, I. P.; Miller, M. L.; Yarbrough, J. C.; Darensbourg, M. Y. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 9710-9711. 38. Huynh, M. T.; Wang, W. G.; Rauchfuss, T. B.; Hammes-Schiffer, S. Inorg. Chem. 2014, 53, 10301-10311. 39. Wang, W. G.; Rauchfuss, T. B.; Zhu, L. Y.; Zampella, G. J. Am. Chem. Soc. 2014, 136, 5773-5782. 40. Gloaguen, F.; Morvan, D.; Capon, J. F.; Schollhammer, P.; Talarmin, J. J. Electroanal. Chem. 2007, 603, 15-20. 41. Liaw, W. F.; Kim, C.; Darensbourg, M. Y.; Rheingold, A. L. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 3591-3597. 42. Lu, T. T.; Chiou, S. J.; Chen, C. Y.; Liaw, W. F. Inorg. Chem. 2006, 45, 8799-8806. 43. Bard A. J., Faulkner L. R., Electrochemical Methods: Fundamentals and Applications. ed. 2.; Wiley: New York, 2001. 44. Gaussian 09, Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Mennucci, B.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Caricato, M.; Li, X.; Hratchian, H. P.; Izmaylov, A. F.; Bloino, J.; Zheng, G.; Sonnenberg, J. L.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Montgomery, J. A., Jr.; Peralta, J. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Rega, N.; Millam, J. M.; Klene, M.; Knox, J. E.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Zakrzewski, V. G.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, Ö.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cioslowski, J.; Fox, D. J. Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2009.
|