應用田口方法優化晶圓測試探針卡針磨耗之研究__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
電子全文

作者(中文):	王膺迪
作者(外文):	Wang, Ying-Ti
論文名稱(中文):	應用田口方法優化晶圓測試探針卡針磨耗之研究
論文名稱(外文):	Application of Taguchi Methods for Improving Probe Card Needle Grinding in Wafer Testing
指導教授(中文):	吳建瑋
指導教授(外文):	Wu, Chien-Wei
口試委員(中文):	林東盈巫佳煌王姿惠
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	工業工程與工程管理學系碩士在職專班
學號:	111036512
出版年(民國):	113
畢業學年度:	112
語文別:	中文
論文頁數:	55
中文關鍵詞:	晶圓測試、探針卡、田口方法
外文關鍵詞:	wafer testing、probe card、Taguchi method
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