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作者(中文):陳政翔
作者(外文):Chen, Cheng-Hsiang
論文名稱(中文):發展基於製程能力指標Cpk之進階型跳批抽樣計畫
論文名稱(外文):Developing Advanced Skip-lot Sampling Plans Based on the Process Capability Index Cpk
指導教授(中文):吳建瑋
指導教授(外文):Wu, Chien-Wei
口試委員(中文):王姿惠
劉時玟
王拓程
口試委員(外文):Wang, Zih-Huei
Liu, Shih-Wen
Wang, To-Cheng
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程與工程管理學系
學號:111034552
出版年(民國):113
畢業學年度:112
語文別:中文
論文頁數:163
中文關鍵詞:製程能力指標跳批抽樣計畫操作特性曲線平均樣本數
外文關鍵詞:Process capability indicesSkip-lot sampling planOperating characteristics curveAverage sampling number
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