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作者(中文):林菊蘭
作者(外文):Gisella Adara
論文名稱(中文):建構產品壽命服從伽瑪分配之時間截略壽命檢驗下的驗收抽樣計畫
論文名稱(外文):Developing Acceptance Sampling Plans under Time-truncated Life Test for Gamma Lifetime Products
指導教授(中文):吳建瑋
指導教授(外文):Wu, Chien-Wei
口試委員(中文):王拓程
王姿惠
劉時玟
口試委員(外文):Wang, To-Cheng
Wang, Zih-Huei
Liu, Shih-Wen
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程與工程管理學系
學號:111034421
出版年(民國):113
畢業學年度:112
語文別:英文
論文頁數:126
中文關鍵詞:時間截略壽命檢驗貨批判決重複遞交抽樣計畫加嚴-正常-加嚴抽樣系統跳批抽樣計畫
外文關鍵詞:time-truncated life testresubmitted sampling planTNT sampling planskip-lot sampling plan
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