創新新穎半導體晶圓在線即時瑕疵檢測—以晶圓分割技術為基礎之瑕疵檢測系統__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

圖書館首頁| 網站地圖| 首頁| 本站說明| 聯絡我們| 相關資源| 台聯大論文系統| 操作說明 | English

帳號：guest(216.73.216.146) 離開系統

字體大小：

字級放大

字級縮小

預設字形

詳目顯示

第 1 筆 / 共 1 筆

第一頁

上一頁

下一頁

最後一頁

/1頁

以作者查詢圖書館館藏

、以作者查詢臺灣博碩士論文系統

、以作者查詢全國書目

論文基本資料
電子全文

作者(中文):	方治緯
作者(外文):	Fang, Chih-Wei
論文名稱(中文):	創新新穎半導體晶圓在線即時瑕疵檢測—以晶圓分割技術為基礎之瑕疵檢測系統
論文名稱(外文):	Innovative in-line Wafer Defect Inspection System Based on Wafer Segmentation Using Special Image Processing Techniques.
指導教授(中文):	洪世章
指導教授(外文):	Hung, Shih-Chang
口試委員(中文):	胡美智陳宗權曾詠青
口試委員(外文):	Hu, Mei-Chih Chen, Tzong-Chyuan Tseng, Yung-Ching
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	經營管理碩士在職專班
學號:	110076539
出版年(民國):	112
畢業學年度:	111
語文別:	英文
論文頁數:	40
中文關鍵詞:	特殊影像處理、晶圓分割、晶圓單元定位
外文關鍵詞:	special image processing、wafer segmentation、wafer unit allocation
相關次數:	推薦:0 點閱:95 評分: 下載:0 收藏:0

(此全文20280617後開放外部瀏覽)
電子全文
摘要

推文
推薦
評分
引用網址
轉寄

第一頁

上一頁

下一頁

最後一頁

相關論文

1.	會計行政服務品質探討:以國立清華大學為例
2.	人力資源計分卡實務探討-以T公司為例
3.	論組織衝突—以婦幼警察隊為例
4.	組織精簡後的留才策略，以C公司為例
5.	企業發展創新服務策略之探討
6.	交易成本與競合策略：T公司的案例研究
7.	企業在俄羅斯尋找合宜代理商之探討
8.	新產品開發方向之策略探討 , 試以某家IC設計公司為例
9.	看學名藥廠與專利藥廠競爭優勢-以台灣外商製藥廠為例
10.	台灣IC設計服務業廠商經營策略之研究 -以F公司為分析個案
11.	資訊安全的自建與委外分析
12.	自建產能或委外：晶圓代工廠建立測試產能的抉擇
13.	福利大躍進 - 科技業福委會的新未來
14.	LED產能擴充決策模式分析-以L公司為例
15.	手機維修服務之策略探討 : 以h公司為例

簡易查詢 | 進階查詢 | 論文瀏覽 | 熱門排行 | 管理/審核者登入