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作者(中文):林伯維
作者(外文):Lin, Bo-Wei
論文名稱(中文):基於桑亞克干涉儀之逆向式雷射掃描光學解析度光聲顯微術
論文名稱(外文):Sagnac Interferometer Based Backward Mode Laser Scanning Optical Resolution Photoacoustic Microscopy
指導教授(中文):李夢麟
指導教授(外文):Li, Meng-Lin
口試委員(中文):謝寶育
鄭耿璽
詹明哲
口試委員(外文):Hsieh, Bao-Yu
Jeng, Geng-Shi
Chan, Ming-Che
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:光電工程研究所
學號:110066517
出版年(民國):113
畢業學年度:112
語文別:中文
論文頁數:42
中文關鍵詞:桑亞克、干涉儀、光學、解析度、光聲、顯微術
外文關鍵詞:Sagnac、Interferometer、Optical、Resolution、Photoacoustic、Microscopy
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