基於機器學習與測試向量簡化之電路電壓降預測的研究__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
電子全文

作者(中文):	張永鋒
作者(外文):	Chang, Yong-Fong
論文名稱(中文):	基於機器學習與測試向量簡化之電路電壓降預測的研究
論文名稱(外文):	IR drop Prediction Based on Machine Learning and Pattern Reduction
指導教授(中文):	王俊堯
指導教授(外文):	Wang, Chun-Yao
口試委員(中文):	陳勇志陳聿廣
口試委員(外文):	Chen, Yung-Chih Chen, Yu-Guang
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	資訊工程學系
學號:	110062589
出版年(民國):	112
畢業學年度:	111
語文別:	英文
論文頁數:	24
中文關鍵詞:	電壓降、機器學習、測試向量簡化
外文關鍵詞:	IR drop、Machine Learning、Pattern Reduction
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