半導體測試設備訂製開發的流程改善__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
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作者(中文):	黃郁翔
作者(外文):	Huang,Yu-Hsiang
論文名稱(中文):	半導體測試設備訂製開發的流程改善
論文名稱(外文):	Design Process Improvement for Customized Semiconductor Test Equipment
指導教授(中文):	邱銘傳
指導教授(外文):	Chiu, Ming-Chuan
口試委員(中文):	劉建良高孟君
口試委員(外文):	Liu, Chien-Liang Kao, Meng-Chun
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	工業工程與工程管理學系碩士在職專班
學號:	110036524
出版年(民國):	111
畢業學年度:	110
語文別:	中文
論文頁數:	67
中文關鍵詞:	訂製化設備、產品平台、產品家族、專案管理關鍵績效指標、SQCD手法
外文關鍵詞:	Product platform、Product family、Project Management KPIs、SQCD method
相關次數:	推薦:0 點閱:561 評分: 下載:0 收藏:0

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