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作者(中文):陳允平
作者(外文):Chen, Yun-Ping
論文名稱(中文):使用熱透鏡顯微鏡偵測單一奈米粒子
論文名稱(外文):Single Nanoparticle Detection Using Thermal Lens Microscopy
指導教授(中文):陳致真
指導教授(外文):Chen, Chih-Chen
口試委員(中文):北森武彥
清水久史
森川響二朗
口試委員(外文):Kitamori, Takehiko
Shimizu, Hisashi
Morikawa, Kyojiro
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:奈米工程與微系統研究所
學號:110035516
出版年(民國):112
畢業學年度:111
語文別:英文
論文頁數:37
中文關鍵詞:微流體熱像鏡顯微鏡奈米粒子奈米金粒子
外文關鍵詞:nanoparticlesTLMAuNPsmicrofluidicsELISAphotothermal
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