發展基於第三代製程能力指標之兩計畫驗收抽樣系統__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
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作者(中文):	賴筱庭
作者(外文):	Lai, Hsiao-Ting
論文名稱(中文):	發展基於第三代製程能力指標之兩計畫驗收抽樣系統
論文名稱(外文):	Developing a Two-Plan Sampling System Based on the Third-Generation Process Capability Index
指導教授(中文):	吳建瑋
指導教授(外文):	Wu, Chien-Wei
口試委員(中文):	王姿惠劉時玟王拓程
口試委員(外文):	Wang, Zih-Huei Liu, Shih-Wen Wang, To-Cheng
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	工業工程與工程管理學系
學號:	110034544
出版年(民國):	112
畢業學年度:	111
語文別:	中文
論文頁數:	92
中文關鍵詞:	製程良率、品質損失、製程良率指標、操作特性曲線、平均樣本數、馬可夫轉移矩陣
外文關鍵詞:	Process Yield、Quality Loss、Process Capability Indices、Operating Characteristic Curve、Average Sampling Number、Markov Chain Transition Matrix
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