根本原因分析於探針卡維修基於多標籤貝氏推論之紫式決策分析架構__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
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作者(中文):	彭家祐
作者(外文):	Peng, Jia-Yu
論文名稱(中文):	根本原因分析於探針卡維修基於多標籤貝氏推論之紫式決策分析架構
論文名稱(外文):	UNISON Framework for Root Cause Analysis for Probe Card Maintenance based on Multi-Label Bayesian Inference
指導教授(中文):	簡禎富
指導教授(外文):	Chien, Chen-Fu
口試委員(中文):	許嘉裕陳暎仁
口試委員(外文):	Hsu, Chia-Yu Chen, Ying-Jen
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	工業工程與工程管理學系
學號:	110034501
出版年(民國):	112
畢業學年度:	111
語文別:	英文
論文頁數:	40
中文關鍵詞:	聰穎式維修、根本原因分析、貝氏推論、紫式決策分析架構、數位轉型
外文關鍵詞:	Smart Maintenance、Root Cause Analysis、Bayesian Inference、UNISON Framework、Digital Transformation
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