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作者(中文):李文安
作者(外文):Lee, Wen-An
論文名稱(中文):利用深度學習模型進行已知和未知製程故障的分類診斷
論文名稱(外文):Fault Classification for Diagnosing Known and Unknown Process Faults Using Deep Learning Models
指導教授(中文):姚遠
指導教授(外文):Yao, Yuan
口試委員(中文):汪上曉
鄭西顯
康嘉麟
口試委員(外文):Wong, Shang-Hsiao
Jang, Shi-Shang
Kang, Jia-Lin
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:化學工程學系
學號:110030518
出版年(民國):112
畢業學年度:111
語文別:中文
論文頁數:56
中文關鍵詞:故障診斷未知故障序列對序列注意力模型田納西伊士曼製程零樣本學習
外文關鍵詞:Fault DiagnosisUnknown FaultSeq2SeqAttentionTennessee Eastman ProcessZero-Shot Learning
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