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論文基本資料
電子全文
作者(中文):
薛可婕
作者(外文):
Hsueh, Ko-Chieh
論文名稱(中文):
奈米雙晶銅銀合金電遷移行為之探討
論文名稱(外文):
Improvement of the electromigration resistance by introducing the silver nano-twinned structure with copper dopping effect
指導教授(中文):
歐陽汎怡
指導教授(外文):
Ouyang, Fan-Yi
口試委員(中文):
陳智
廖建能
口試委員(外文):
Chen, Chih
Liao, Chien-Neng
學位類別:
碩士
校院名稱:
國立清華大學
系所名稱:
工程與系統科學系
學號:
110011542
出版年(民國):
112
畢業學年度:
111
語文別:
中文
論文頁數:
113
中文關鍵詞:
銅銀合金
、
奈米雙晶
、
電遷移
外文關鍵詞:
Cu-Ag alloy
、
Nano-twinned
、
Electromigration
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