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作者(中文):薛可婕
作者(外文):Hsueh, Ko-Chieh
論文名稱(中文):奈米雙晶銅銀合金電遷移行為之探討
論文名稱(外文):Improvement of the electromigration resistance by introducing the silver nano-twinned structure with copper dopping effect
指導教授(中文):歐陽汎怡
指導教授(外文):Ouyang, Fan-Yi
口試委員(中文):陳智
廖建能
口試委員(外文):Chen, Chih
Liao, Chien-Neng
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工程與系統科學系
學號:110011542
出版年(民國):112
畢業學年度:111
語文別:中文
論文頁數:113
中文關鍵詞:銅銀合金奈米雙晶電遷移
外文關鍵詞:Cu-Ag alloyNano-twinnedElectromigration
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