帳號:guest(216.73.216.146)          離開系統
字體大小: 字級放大   字級縮小   預設字形  

詳目顯示

以作者查詢圖書館館藏以作者查詢臺灣博碩士論文系統以作者查詢全國書目
作者(中文):林佳威
作者(外文):Lin, Jia-Wei
論文名稱(中文):基於深度卷積神經網路方法下利用注意力機制及資料增強進行晶圓圖缺陷圖案不均衡分類
論文名稱(外文):Wafer Map Defect Pattern Imbalanced Classification Using Attention Mechanism and Data Augmentation Based on Deep Convolutional Neural Network
指導教授(中文):鐘太郎
指導教授(外文):Jong, Tai-Lang
口試委員(中文):黃裕煒
謝奇文
口試委員(外文):Huang, Yu-Wei
Hsieh, Chi-Wen
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:電機工程學系
學號:109061640
出版年(民國):111
畢業學年度:110
語文別:中文
論文頁數:58
中文關鍵詞:晶圓圖缺陷圖案分類深度卷積神經網路資料不均衡資料增強注意力機制
外文關鍵詞:wafer map defect pattern classificationdeep convolutional neural networkdata imbalancedata augmentationattention mechanism
相關次數:
  • 推薦推薦:0
  • 點閱點閱:680
  • 評分評分:*****
  • 下載下載:0
  • 收藏收藏:0
(此全文20270609後開放外部瀏覽)
電子全文
摘要
 
 
 
 
第一頁 上一頁 下一頁 最後一頁 top
* *