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作者(中文):劉峻宇
作者(外文):Liu, Jun-Yu
論文名稱(中文):使用Capon法之高軸向解析光學解析度光聲顯微術
論文名稱(外文):High Axial Resolution Optical Resolution Photoacoustic Microscopy Using the Capon Method
指導教授(中文):李夢麟
指導教授(外文):Li, Meng-Lin
口試委員(中文):沈哲州
謝寶育
鄭耿璽
口試委員(外文):Shen, Che-Chou
Hsieh, Bao-Yu
Jeng, Geng-Shi
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:電機工程學系
學號:109061524
出版年(民國):111
畢業學年度:110
語文別:中文
論文頁數:74
中文關鍵詞:光學解析度光聲顯微術自適應波束成形同調性權重軸向解析度非等距空間解析度
外文關鍵詞:Optical resolution photoacoustic microscopyAdaptive beamformingCoherence factor weightingAxial resolutionnon-isometric spatial resolution
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