用高效電漿子探針增強拉曼光譜技術進行奈米解析度樣品表面材料分析__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
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作者(中文):	陳星宇
作者(外文):	Chen, Hsing-Yu
論文名稱(中文):	用高效電漿子探針增強拉曼光譜技術進行奈米解析度樣品表面材料分析
論文名稱(外文):	Material analysis on the sample surface with Nano-resolution by using highly efficient plasmonic tip-enhanced Raman spectroscopy
指導教授(中文):	嚴大任
指導教授(外文):	Yen, Ta-Jen
口試委員(中文):	陳力俊江叡涵
口試委員(外文):	Chen, Lih-Juann Jiang, Ruei-Han
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	材料科學工程學系
學號:	109031531
出版年(民國):	111
畢業學年度:	111
語文別:	英文
論文頁數:	84
中文關鍵詞:	探針增強拉曼技術、反射模組、原子力顯微鏡、掃描式近場顯微鏡、奈米級成像
外文關鍵詞:	Tip-enhanced Raman Spectroscopy、Reflection module、Atomic force Microscopy、Scanning Near-field Optical Microscopy、Nanoscale imaging
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