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作者(中文):簡岳盈
作者(外文):Jian, Yue-Ying
論文名稱(中文):紫式決策架構建立自動缺陷辨識與診斷系統於晶圓瑕疵檢測：3DIC/WLCSP封裝檢測製程之實證研究
論文名稱(外文):UNISON Auto Defects Classification Framework To Empower Diagnostic System On Wafer Inspection:An Empirical Study Of 3DIC/WLCSP Wafer Inspection Process
指導教授(中文):簡禎富
馬綱廷
指導教授(外文):Chien, Chen-Fu
Ma, Kang-Ting
口試委員(中文):周哲維
鄭家年
口試委員(外文):Chou, Che-Wei
Zheng, Jia-Nian
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:智慧製造跨院高階主管碩士在職學位學程
學號:109005518
出版年(民國):111
畢業學年度:110
語文別:中文
論文頁數:43
中文關鍵詞:紫式決策架構、晶圓檢測、自動缺陷辨識、工業3.5、聰明生產
外文關鍵詞:UNISON framework、Wafer inspection、ADC、Industry3.5、Intelligent Manufacturing
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