記憶體內運算之內建自測試與內建自修正策略__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
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作者(中文):	丁文謙
作者(外文):	Ting, Wen-Chien
論文名稱(中文):	記憶體內運算之內建自測試與內建自修正策略
論文名稱(外文):	Built-in Self-test and Built-in Self-repair Strategies for Computing in Memory
指導教授(中文):	呂仁碩
指導教授(外文):	Liu, Ren-Shuo
口試委員(中文):	劉靖家謝志成洪浩喬
口試委員(外文):	Liou, Jing-Jia Hsieh, Chih-Cheng Hong, Hao-Chiao
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	電機工程學系
學號:	108061558
出版年(民國):	111
畢業學年度:	110
語文別:	英文
論文頁數:	47
中文關鍵詞:	記憶體內運算、內建自測試、內建自修正
外文關鍵詞:	Computing in Memory、Built-in Self-test、Built-in Self-repair
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