積體電路探針卡異常處理之紫式決策架構以推動工業3.5數位決策及其實證研究__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
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作者(中文):	吳欣蓉
作者(外文):	Wu, Hsin-Jung
論文名稱(中文):	積體電路探針卡異常處理之紫式決策架構以推動工業3.5數位決策及其實證研究
論文名稱(外文):	UNISON Framework for IC Probe Card Troubleshooting to Empower Industry 3.5 Digital Decision and an Empirical Study
指導教授(中文):	簡禎富
指導教授(外文):	Chien, Chen-Fu
口試委員(中文):	許嘉裕李家岩
口試委員(外文):	Hsu, Chia-Yu Lee, Chia-Yen
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	工業工程與工程管理學系
學號:	108034540
出版年(民國):	110
畢業學年度:	109
語文別:	英文
論文頁數:	32
中文關鍵詞:	探針卡異常處理、約略集合理論、紫式決策分析架構、工業3.5、數位決策
外文關鍵詞:	Probe card troubleshooting、Rough Set Theory、UNISON framework、Industry 3.5、Digital decision
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