應用於印刷電路板之非參考法缺陷檢測技術__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
電子全文

作者(中文):	陳韋志
作者(外文):	Chen, Wei-Chih
論文名稱(中文):	應用於印刷電路板之非參考法缺陷檢測技術
論文名稱(外文):	The application of non-referential based method on printed circuit board defect detection
指導教授(中文):	陳玉彬
指導教授(外文):	Chen, Yu-Bin
口試委員(中文):	李明蒼張瑞永
口試委員(外文):	Lee, Ming-Tsang Chang, Jui-Yung
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	動力機械工程學系
學號:	108033599
出版年(民國):	110
畢業學年度:	109
語文別:	中文
論文頁數:	43
中文關鍵詞:	印刷電路板、電路缺陷檢測、非參考比對方法、機器視覺
外文關鍵詞:	PCB、defect detection、non-referential method、machine vision
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