應用卷積神經網路-支持向量機和遷移學習於自動缺陷判別__國立清華大學博碩士論文全文影像系統

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論文基本資料
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作者(中文):	顏瑋辰
作者(外文):	Yen, Wei-Chen
論文名稱(中文):	應用卷積神經網路-支持向量機和遷移學習於自動缺陷判別
論文名稱(外文):	Utilizing a Convolutional Neural Network-Support Vector Machine with Transfer Learning for Automatic Defect Classification
指導教授(中文):	蘇朝墩
指導教授(外文):	Su, Chao-Ton
口試委員(中文):	蕭宇翔陳穆臻薛友仁
口試委員(外文):	Hsiao, Yu-Hsiang Chen, Mu-Chen Shiue, Yeou-Ren
學位類別:	碩士
校院名稱:	國立清華大學
系所名稱:	工業工程與工程管理學系
學號:	107034605
出版年(民國):	109
畢業學年度:	108
語文別:	英文
論文頁數:	36
中文關鍵詞:	卷積神經網路、支持向量機、遷移學習、自動缺陷分類、發光二極體引線框
外文關鍵詞:	convolutional neural network、support vector machine、transfer learning、automatic defect classification、LED lead frame
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