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作者(中文):吳展良
作者(外文):Wu, Chan-Liang
論文名稱(中文):積體電路實體設計中的可靠度驗證流程之研究
論文名稱(外文):Research on Reliability Verification Flow in IC Physical Design
指導教授(中文):盧志文
指導教授(外文):Lu, Chih-Wen
口試委員(中文):陳元賀
洪玉城
陳宏偉
黃彥中
口試委員(外文):Chen, Yuan-Ho
Hong, Yu-Cheng
Chen, Hung-Wei
Huang, Yan-Jhong
學位類別:博士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工程與系統科學系
學號:107011852
出版年(民國):113
畢業學年度:113
語文別:英文
論文頁數:203
中文關鍵詞:可製造性導向設計、電氣規則檢查、靜電放電、電壓降與電遷移、電子設計自動化工具、佈局效應、實體設計
外文關鍵詞:Design for Manufacturing、Electrical Rule Check、Electrostatic Discharge、IR-Drop & Electromigration、EDA、Layout Dependent Effect、Physical Design
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