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論文基本資料
電子全文
作者(中文):
阮敦寶
作者(外文):
Ruan, Dun-Bao
論文名稱(中文):
高效能鍺互補式金氧半元件之界面工程研究
論文名稱(外文):
Interfacial Layer Engineering for High Performance Ge CMOS Device
指導教授(中文):
張廖貴術
指導教授(外文):
Chang-Liao, Kuei-Shu
口試委員(中文):
劉柏村
李耀仁
趙天生
崔秉鉞
口試委員(外文):
Liu, Po-Tsun
Lee, Yao-Jen
Chao, Tien-Sheng
Tsui, Bing-Yue
學位類別:
博士
校院名稱:
國立清華大學
系所名稱:
工程與系統科學系
學號:
105011871
出版年(民國):
111
畢業學年度:
110
語文別:
中文
論文頁數:
148
中文關鍵詞:
純鍺
、
金氧半電晶體
、
鰭式電晶體
、
界面層處理
、
超臨界流體
、
互補式元件
外文關鍵詞:
Ge
、
MOSFET
、
FinFET
、
Interfacial layer treatment
、
Supercritical fluid treatmen
、
CMOS
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