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作者(中文):高韻峯
作者(外文):Kao, Yun-Feng
論文名稱(中文):接觸點電阻式隨機存取記憶體之變異性研究及改善方法
論文名稱(外文):Study and Mitigation Schemes of Variability in Contact Resistive Random Access Memory
指導教授(中文):金雅琴
指導教授(外文):King, Ya-Chin
口試委員(中文):林崇榮
施教仁
葉文冠
侯拓宏
口試委員(外文):Lin, Chrong Jung
Shih, Jiaw-Ren
Yeh, Wen-Kuan
Hou, Tuo-Hung
學位類別:博士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:電子工程研究所
學號:104063520
出版年(民國):109
畢業學年度:109
語文別:英文
論文頁數:122
中文關鍵詞:電阻式隨機存取記憶體變異性蒙地卡羅模擬
外文關鍵詞:Resistive random access memorVariabilityMonte Carlo simulation
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